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VersaSCAN SKP掃描開爾文探針系統(tǒng)整合定位系統(tǒng)及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計(jì)和鎢絲探針。
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。它是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以較高空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。
Modulab XM Photoechem是一套可完整表征染料敏化和鈣鈦礦等電池的整體集成式光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。而且該體系可用于可見光譜-光電化學(xué)領(lǐng)域的研究,例如,氧化鐵催化光解水等。Solartron Analytical作為過二十年的行業(yè)*,認(rèn)識(shí)到許多儀器使用者對(duì)儀器技術(shù)本身并不很熟悉,因此推出此產(chǎn)品的核心理念是對(duì)海量數(shù)據(jù)的分析實(shí)現(xiàn)“一鍵式”操作,研發(fā)并提供綜合成套的技術(shù)解決方案。
材料腐蝕的電化學(xué)測(cè)試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測(cè)試, 測(cè)試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用
EnergyLab XM電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是輸力強(qiáng)分析APP-XM測(cè)量產(chǎn)品系列中的一員,Energylab XM 專注于鋰離子電池,燃料電池和級(jí)電容器等研究。
1470E多通道電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是主要針對(duì)電池、燃料電池和級(jí)電容器等儲(chǔ)能裝置設(shè)計(jì)制造的直流(DC)和阻抗(AC)特性研究的綜合測(cè)試系統(tǒng);同時(shí)基于該系統(tǒng)的高速、寬測(cè)量范圍及高分辨率,也廣泛應(yīng)用于傳感器、涂層、腐蝕及常規(guī)電化學(xué)測(cè)試與分析。
ModuLab XM是模塊化的電化學(xué)量測(cè)系統(tǒng),其核心是一高速、高性能的恒電位/恒電流儀,能精準(zhǔn)地進(jìn)行控制和測(cè)量。有一系列模塊供選購,以使電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)符合特殊應(yīng)用所需,包括:燃料電池開發(fā)、電化學(xué)分析、納米技術(shù)及腐蝕/涂層研究。各個(gè)選購模塊進(jìn)行各自獨(dú)立的校正,因此增加模塊到ModuLab系統(tǒng)就像“即插即用”般地簡(jiǎn)單!儀器的前面板可輕易取下,然后插入新的模塊。
ModuLab XM是模塊化的電化學(xué)量測(cè)系統(tǒng),其核心是一高速、高性能的恒電位/恒電流儀,能精準(zhǔn)地進(jìn)行控制和測(cè)量。有一系列模塊供選購,以使電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)符合特殊應(yīng)用所需,包括:燃料電池開發(fā)、電化學(xué)分析、納米技術(shù)及腐蝕/涂層研究。
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