光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用特色分析

　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是新研發(fā)光譜電化學(xué)應(yīng)用的一體式測(cè)試儀器，光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)在傳統(tǒng)電化學(xué)領(lǐng)域中，引入光譜因素，在太陽(yáng)電池研究領(lǐng)域中，光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是薄膜太陽(yáng)能電池和染料敏化太陽(yáng)能電池在實(shí)驗(yàn)室階段先期研究的重要設(shè)備。

　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)：

　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)全面集成光學(xué)及電學(xué)測(cè)量自動(dòng)運(yùn)行及自動(dòng)分析功能，僅按動(dòng)3次鼠標(biāo)“確定”，“運(yùn)行”，“分析”，多于300步的復(fù)雜的DSSC測(cè)試“一鍵式”完成，光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是新入行研究者的理想選擇。
 　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)：

　　高功率的高準(zhǔn)直聚焦光路，輸出光強(qiáng)> 0.1太陽(yáng)等量光強(qiáng)。

　　同時(shí)同步參比檢測(cè)技術(shù)，消除高頻IMPS及IMVS研究中的相位與幅值的偏差。

　　多種測(cè)試技術(shù)包，帶光強(qiáng)控制的電化學(xué)阻抗譜EIS ；電量抽??；光電壓衰減；I-V曲線(xiàn)測(cè)試用于填充因子，轉(zhuǎn)換效率及光功率測(cè)試。

　　帶有NIST國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))可追溯校準(zhǔn)文件的光源，光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)保證測(cè)試的重復(fù)性與重現(xiàn)性，并且日?？梢詫?duì)其進(jìn)行校驗(yàn)檢查。

　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)帶有中密度濾光片的光學(xué)系統(tǒng)，特別設(shè)計(jì)用于弱光研究。

　　光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)帶有標(biāo)準(zhǔn)白光偏置，光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)用于光伏和光陽(yáng)極材料的研究。