高阻抗測試接口

為分析低電導率、低損耗材料，即使是好的頻響分析儀–阻抗儀（1260A）單獨使用時，已不能有效地解決上述問題，需要擴展其能力。 1296A 高阻抗測試接口，克服了這些限制給你一個頻率范圍*過了12個數量級的快速、精確、可重復的阻抗測量，產生有價值的可洞察各種材料包括聚合物、橡膠、木材、粘膠劑、電子元件、石臘及油類等的特性。與易于操作的軟件相結合，系統(tǒng)能照應實驗技術而讓你集中精力于所得結果的分析。 

1296A 增強了輸力強公司的頻響儀1260A、1255 去解決在測試介電材料所遭遇到的低電流及電容的能力，能夠做到：
● 阻抗測量過100TΩ（10+14Ω）；
● 精確測量介質損耗，tanδ<10-4；
● 頻率范圍：10μHz ～10MHz；
● 可施加交流信號電壓及直流偏壓
● 施加高達1000V電壓（用外接高壓源或放大器）
● 去揭示先前難于達到的一些基本數據。

1296A 高阻抗測試接口內有高精度的參考電容，或者你也可以選用一個外接的參考電容，因而提供了無比的靈活性可適合各種實驗要求。支持溫度及直流控制器，所配的測量軟件可加以設定，這進一步擴充了材料分析工作域。

材料介電特性（非傳導性） 
許多材料具有低電導（高阻抗）及低損耗的性質。雖然許多呈現了這些性質的材料通常不作介電材料來考慮但它們常被統(tǒng)稱為介電材料。分析這類材料的一種通用技術即是阻抗譜—在各種頻率下測量其電學阻抗。阻抗與材料的電導率及電容率有關，而這些參數依次與材料的原子分子活性有關。當有交流電壓施加于介電材料樣品時，一些能量就被電容所儲存而另一些則被電阻效應所消耗。

樣品中所引起的電流將呈現一個相位滯后δ。在材料研究中的電容效應即是所謂的電容率（或稱介電常數）ε′，而電阻效應則稱之為介質損耗ε"。Tanδ即損耗系數，它等于ε"/ε′。當材料的ε′大而ε"很小時，若要精確測量則Tanδ的分辨率就變得很關鍵。

1296A 通過采用參比測量法來解決此問題，即先測量精密電容，該精密電容自動地取代樣品；下一次測量是樣品本身，如此交替地進行。這兩個結果可用于獲得非常精確的材料電容率值，事實上，第一次測量是用來消除外部附加的電容。