介電材料頻譜測(cè)試儀的主要用途

　　介電材料頻譜測(cè)試儀是模塊化的，整合的研究系統(tǒng)，可用來測(cè)試從絕緣體到超導(dǎo)體的大部分材料的電學(xué)性質(zhì)。它為分析低電導(dǎo)率、低損耗材料要擴(kuò)展即使是較好的頻響分析儀的能力。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。
 

　　此測(cè)試系統(tǒng)即提供時(shí)域技術(shù)，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學(xué)性能；又提供AC技術(shù)如阻抗、電容、C-V來提供更多細(xì)節(jié)信息進(jìn)一步分析材料的導(dǎo)電機(jī)理。適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。它是在特殊環(huán)境下，測(cè)量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。
 

　　介電材料頻譜測(cè)試儀的主要用途：
 

　　無(wú)源元件：介電材料頻譜測(cè)試儀可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
 

　　半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。
 

　　其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。
 

　　介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估。
 

　　磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。
 

　　半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性。
 

　　液晶材料：介電材料頻譜測(cè)試儀還可用于液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。